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• 日本日置HIOKI 微電阻計RM3544
• 日本日置HIOKI 微電阻計RM3544是使用4端子法來測量低電阻。根據(jù)銅線等溫度系數(shù)，能夠在室溫情況下將變化了的實測值換算成標準溫度的電阻值，適用于進行繞組線的電阻測量。

• 日本日置無線數(shù)據(jù)記錄儀LR8410-30
• 無線輕松采集多點數(shù)據(jù)，無線數(shù)據(jù)記錄儀

• 馬達/諧波測試分析儀
• 馬達/諧波測試分析儀3194 *多可達6個輸入通道，用于分析逆變器馬達和高次諧波！ ?3194高次諧波分析*多達3000次 ?適合用于分析和評估逆變器馬達的情況以及家用電器的諧波。 ?另外，若安裝選件9603-01單元，儀器可直接測量在評估逆變器馬達情況時必須測量的扭矩和轉(zhuǎn)速。

• 日置電池測試儀
• 日置電池測試儀3555 立即測定電池劣化情況:小型二次電池用 ?通過對電池的內(nèi)電阻和內(nèi)電壓的測量 ?以合格(pass)，警告(warning)及不合格(fail)三段指示 ?使本系列產(chǎn)品能夠立即得到電池狀態(tài)的結(jié)果

• 日置微電阻計
• 日置微電阻計3540 提供可選手動測試或系統(tǒng)應(yīng)用測試 ?4端子方法測量mΩ電阻（快速100ms響應(yīng)） ?比較器功能*多存儲7組表格 ?溫度補償功能，測量溫度并根據(jù)銅來計算20℃以下的對應(yīng)值。

• 日置微電阻計
• 日置微電阻計3541 寬量程、高分辨率、適用于系統(tǒng)測試的電阻計 ?廣范圍測量 *低0.1μΩ（20.00mΩ），*高110MΩ ?快速采樣,*快可達0.6ms (*根據(jù)設(shè)定條件的不同,會有差異) ?補正偏置電壓,用9451(Pt)/溫度探頭進行溫度補正功能 ?運用4端子測量技術(shù),測試線接觸電阻可忽略不計 ?具備統(tǒng)計、演算功能。若再另配選件的9670,可達到印字功能。

• 日置微電阻計 RM 3542
• 日置微電阻計RM3542 ?實現(xiàn)了自動化系統(tǒng)中所要求的速度和高精度 ?雙重檢查功能保證準確接觸，實現(xiàn)可靠性測試 ?可用于集成電路片電感器和EMC對應(yīng)零件的低能耗電阻測量 ?可用于制造工程中手動的取樣檢查

• 日置微電阻計
• 日置微電阻計RM3543 用于測試超低或低并聯(lián)電阻的電阻計 ?自動化系統(tǒng)中±0.16%的精度和0.01μΩ分辨率 ?優(yōu)越的反復(fù)測量精度 ?提供高性能的接觸檢查功能，比較器功能和數(shù)據(jù)輸出功能 ?直觀的用戶接口，高度抗干擾性，樶實用與自動一體化

• 日置電容測試儀
• 日置電容測試儀3506 對應(yīng)1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試 ?反復(fù)測量精度更高，樶適合生產(chǎn)線 ?校正維修功能，減低由環(huán)境的溫度變化影響 ?測量導(dǎo)線的過長引起的阻抗變化，阻抗補正功能 ?比測儀的設(shè)定值和測定值的同步顯示 ?2ms的高速測量；1kHz,1MHz 測量 ?根據(jù)BIN的測定區(qū)分容量 ?比測儀和觸發(fā)器同步輸出功能

• 日置電容測試儀
• 日置電容測試儀3505 對應(yīng)1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試 ?反復(fù)測量精度更高，樶適合生產(chǎn)線 ?校正維修功能，減低由環(huán)境的溫度變化影響 ?測量導(dǎo)線的過長引起的阻抗變化，阻抗補正功能 ?比測儀的設(shè)定值和測定值的同步顯示 ?2ms的高速測量；1kHz,1MHz 測量 ?根據(jù)BIN的測定區(qū)分容量 ?比測儀和觸發(fā)器同步輸出功能

• 日置LCR測試儀
• 日置LCR測試儀3532-50 搭配寬幅測試頻率的阻抗測試儀 測試頻率可在42Hz～5MHz寬廣頻率量程內(nèi)以4位**度自由調(diào)整 可很容易地測試被測物在高頻量程內(nèi)的特性。操作非常簡便，改變設(shè)置時通過觸模屏幕，所需的設(shè)定選項會順序排列顯示出來

• 日置LCR測試儀
• 日置LCR測試儀3535 高速LCR儀，采樣率可高至120MHz 100kHz～120MHz的寬頻帶 高速LCR測試（6ms/采樣） 拆卸式前置放大器可選擇 為比較標準元件提供補償?shù)摹柏撦d補償功能

• 電池測試儀
• 日本日置電池測試儀BT3563 可直接測量高達300V的電壓（BT3563） 用于檢查高電壓電池組/電池單元的生產(chǎn)線 大型（低電阻）電池單元檢查 多種接口可用于高速自動化產(chǎn)線中